Home   »   Projekte   »   Femtometer-Wellenlängenmonitor

Femtometer-Wellenlängenmonitor für F2-Mikrolithographielaser im VUV

Ziel des Projektes war die Weiterentwicklung des Wellenlängenmonitors für Mikrolithographielaser mit spezieller Bezugnahme auf den F2-Laser bei 157 nm. Für den F2-Laser werden eine Halbwertsbreite von < 300 fm und eine 95%-Breite von < 1,2 pm gefordert. Aufbauend auf den Erfahrungen bei der Entwicklung des Wellenlängenmonitors bei 248 nm und bei 193 nm, mussten eine Reihe von Problemstellungen bearbeitet werden, die sich aus dem Übergang zum Vakuum-UV (Wellenlängen < 200 nm) ergeben.

Ergebnisse

  • Der gesamte Lichtweg, einschließlich der strahlführenden Optik vom Laser bis zum Wellenlängenmonitor, muss frei von atmosphärischem Sauerstoff gehalten werden. Dazu wurden entsprechende Bauelemente entwickelt und getestet.
  • Für das Spektrometer selbst wurde ein spezieller Hochvakuumtank entwickelt, der das Evakuieren auf einen Sauerstoffpartialdruck < 10-5 bar garantiert.
  • Für die mechanische Kopplung zwischen Spektrometer und Tank sowie für die Strahlungseinkopplung durch das Tankfenster wurden Varianten verglichen und optimiert.
  • Besonders komplexe Untersuchungen erfolgten zur optischen, mechanischen und vakuumtechnischen Kopplung des Detektorsystems an das evakuierte Spektrometer. Verschiedene Varianten der Wärmeabführung wurden verglichen und in Abstimmung mit dem Kamerahersteller optimiert.
  • Für die absolute Wellenlängenkalibrierung wurden Referenzlinien untersucht und ausgewählt. Mit den erreichten Parametern für die instrumentelle Halbwertsbreite (90 fm), die 95%-Breite (300 fm) und die absolute Wellenlängenkalibrierung (Δλ < 50 fm) konnten die Anforderungen der Laserhersteller an den Wellenlängenmonitor erfüllt werden.
  • Ein zusätzlicher Hauptgegenstand des Projektes war die weitere Reduzierung der Bandbreiten des Wellenlängenmonitors. Diese Untersuchungen wurden mit dem Ziel einer verbesserten Messtechnik durchgeführt. Es wurden umfangreiche Untersuchungen an allen Gerätekomponenten (optisch, mechanisch, elektronisch) durchgeführt, um die Ursachen für die Differenz zwischen theoretischer und praktisch realisierter Halbwertsbreite bzw. 95%-Breite aufzuklären.
  • Im Verlauf unserer Untersuchungen konnte nachgewiesen werden, dass die unvollkommene Modulationstransferfunktion (MTF) der Detektoren einen signifikanten Einfluß auf die Bandbreiten besitzt. Durch Entwicklung eines speziellen Messaufbaues konnte dieser Effekt quantisiert werden. Durch eine gezielte Auswahl der Detektoren wurden mit 70 fm (Halbwertsbreite) und 220 fm (95%-Wert) Parameter erreicht, die von dem späteren Produzenten der Geräte (LTB) als exzellent beurteilt wurden.

Ergebnistransfer: Fa. LTB Lasertechnik Berlin GmbH (Berlin-Adlershof)

Impressum

Valid HTML 4.01!